ケミカルドライ
エッチング裝置

半導(dǎo)體ウェーハ上につけた各種薄膜を気相中(ドライ)で化學(xué)的(ケミカル)に削る(エッチング)裝置です。処理(エッチング)部とプラズマ発生部が完全に分離したダメージフリーエッチングのため、基盤加工後のダメージ層除去処理等に使用されます。
特長(zhǎng)
- マイクロ波を利用した等方性ケミカルドライエッチング
- プラズマダメージフリーエッチング
- ウェーハチャックシステムとステージ溫調(diào)によるウェーハ溫度コントロール
- 3~8インチウェーハ対応
- ダブルフィンガー型ロボット搬送採(cǎi)用
裝置仕様
エッチング方式 | マイクロ波を利用したケミカルドライエッチング |
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エッチング材料 | Poly-Si, Si3N4BPSG, W, Mo, Ta etc |
ウェーハサイズ | φ8"(オプションφ6", φ5", φ3") |
エッチングチャンバー | 枚葉式 |
排気ポンプ | ドライポンプ |
圧力制御 | コンダクタンスバルブ制御 |
エッチングガス | CF4 ,O2 ,N2 etc |
プラズマ電源 | マイクロ波 2. 45GHz 1. 0kw |
製品に関するお問(wèn)い合わせ